اقام قسمنا زيارة علمية الى مركز بحوث النانو تكنولوجي  لطلبة المرحلة الثالثة – فرع هندسة الالكترونيات البصرية يوم الاربعاء المصادف 10/4/2019 للتعرف على الاجهزة المستخدمة في المركز والمتعلقة بفحوصات المواد التي تحوي دقائق نانوية ضمن حقل تطبيقات الالكترونيات البصرية وتم التعرف خلال الزيارة على عدة مختبرات منها مختبر ( Scanning Electronics Microscope ) ( SEM ) حيث يعتبر من المختبرات المهمة في تطبيقات الالكترونيات البصرية ضمن حقل النانو تكنولوجي حيث يقوم بالكشف عن حجم وتوزيع الدقائق النانوية المطعمة في المواد الشبه موصلة التي تعمل كمتحسس او الخلايا الشمسية ، اما المختبر الآخر فهو مختبر      ( Atomic force Microscopy ) وهو يعتبر أكثر تطورا من ( SEM ) حيث يمكن من خلاله التعرف على نعومة وخشونة السطوح اضافة الى كشف حجم وتوزيع الدقائق النانوية على سطح الجسم وداخله . كما تم التعرف ايضا على مختبر( X-Ray Diffraction ) ( XRD )  حيث يقوم بالكشف على التركيب الداخلي للبلورات ومن خلاله يمكن الطالب من التعرف على نوع البلورة ومميزاتها وتطبيقاتها كمضمن في مجال الاتصالات ، توليد الليزر ، المتحسسات ... الخ . كما تم شرح الاجهزة بصورة منفصلة من قبل كادر بحثي متخصص وتم اجراء نقاشات علمية لغرض التعرف على التطبيقات المستخدمة . وقد أشرف على الزيارة كل من المدرس المساعد      ( صباح حسن علي ) والمدرس المساعد ( رؤى شاكر محمود ) .